Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology - Seizo Morita - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642260704 - 14. mars 2012
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Seizo Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology 2009 edition

Pris
NOK 2.149

Bestillingsvarer

Forventes levert 14. - 22. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Seizo Morita

Kundene våre sier:

14 dages returrett
Toppvurdering på Trustpilot
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;

419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 14. mars 2012
ISBN13 9783642260704
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 401
Mål 234 × 157 × 31 mm   ·   585 g
Språk Fransk  
Redaktør Giessibl, Franz J.
Redaktør Morita, Seizo
Redaktør Wiesendanger, Roland

Mer med Seizo Morita

Vis alle

Mer fra samme **utgiver**

Se alt med Seizo Morita