Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642203282 - 28. september 2011
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2011 edition

Pris
NOK 1.469

Bestillingsvarer

Forventes levert 13. - 21. okt
Få varsel om nye utgivelser fra Hui Xie
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


360 pages, biography

Media Bøker     Innbunden bok   (Bok med hard rygg og stivt omslag)
Utgitt 28. september 2011
ISBN13 9783642203282
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 344
Mål 155 × 235 × 25 mm   ·   612 g
Språk Fransk  

Mer fra samme **utgiver**