Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Bøker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26. november 2014
Ved uoverensstemmelse mellom cover og tittel gjelder tittel

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

Pris
NOK 1.739

Bestillingsvarer

Forventes levert 31. aug - 14. sep
Få varsel om nye utgivelser fra Hui Xie
Legg til iMusic ønskeliste
eller

Ikke vurdert ennå

Finnes også som:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Media Bøker     Pocketbok   (Bok med mykt omslag og limt rygg)
Utgitt 26. november 2014
ISBN13 9783642445019
Utgivere Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antall sider 344
Mål 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Språk Engelsk  

Mer fra samme **utgiver**